判断题

在扫描型波长色散X射线荧光光谱仪中一般都采用SC和FPC两种探测器探测器。

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X射线荧光光谱仪包涵下述()类型() 荧光光谱仪一般采用( )作为光源。 波长色散X射线荧光光谱仪中的晶体一般而言,灵敏度与分辨率成正比关系,高的色散率晶体往往反射率低。 波长色散X射线荧光光谱仪中的晶体一般而言,灵敏度与分辨率成正比关系,高的色散率晶体往往反射率低() X射线荧光光谱仪的X射线分为两种即原级X射线和次级X射线,一般说来,原级X射线的波长比次级的长。 波长色散X射线荧光光谱仪当探测器记录的X射线强度太高时,计数率和X射线真实强度不成正比,这种现象称作()现象 ()是X射线荧光光谱仪的分光器件。 X射线荧光光谱仪可分为()类。 X射线荧光光谱仪灵敏度高 X射线荧光光谱仪和光电直读光谱仪一样,都是采用光栅作为分光元件。 X射线荧光光谱仪和光电直读光谱仪一样,都是采用光栅作为分光元件() 在能量色散X射线荧光光谱仪上,探测器接收到的是()光束 能量色散X射线荧光光谱仪是利用X射线荧光具有不同()的特点,将其分开,依靠()探测器来检测 X射线荧光光谱仪的X射线发生器由()构成。 X射线荧光光谱仪和光电直读光谱仪一样,都采用光电倍增管来接受特征的光谱线信号() X射线荧光光谱仪可测出样品中的:(). 波长色散X射线荧光光谱仪的原级谱线滤光片位于X射线管与()之间,是一种能()吸收某波长或波带的金属薄膜 波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体是利用晶体的()现象使不同波长的X射线分开,以便从中选择被测元素的()谱线进行测定 波长色散X射线荧光光谱仪使用滤光片的目的是消除或者降低来自X射线管发射的原级X射线谱,尤其是靶材的特征X射线谱对待测元素的干扰。 波长色散X荧光光谱仪中用于探测重元素X射线荧光是()计数器,用于探测轻元素X射线荧光是()正比计数器,封闭式正比计数器是用于探测限定的几个元素的X射线荧光
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