在扫描型波长色散X射线荧光光谱仪中一般都采用SC和FPC两种探测器探测器。

X射线荧光光谱仪包涵下述（）类型（） 荧光光谱仪一般采用( )作为光源。 波长色散X射线荧光光谱仪中的晶体一般而言，灵敏度与分辨率成正比关系，高的色散率晶体往往反射率低。 波长色散X射线荧光光谱仪中的晶体一般而言，灵敏度与分辨率成正比关系，高的色散率晶体往往反射率低（） X射线荧光光谱仪的X射线分为两种即原级X射线和次级X射线，一般说来，原级X射线的波长比次级的长。 波长色散X射线荧光光谱仪当探测器记录的X射线强度太高时，计数率和X射线真实强度不成正比，这种现象称作（）现象 （）是X射线荧光光谱仪的分光器件。 X射线荧光光谱仪可分为（）类。 X射线荧光光谱仪灵敏度高 X射线荧光光谱仪和光电直读光谱仪一样，都是采用光栅作为分光元件。 X射线荧光光谱仪和光电直读光谱仪一样，都是采用光栅作为分光元件（） 在能量色散X射线荧光光谱仪上，探测器接收到的是（）光束 能量色散X射线荧光光谱仪是利用X射线荧光具有不同（）的特点，将其分开，依靠（）探测器来检测 X射线荧光光谱仪的X射线发生器由（）构成。 X射线荧光光谱仪和光电直读光谱仪一样，都采用光电倍增管来接受特征的光谱线信号（） X射线荧光光谱仪可测出样品中的：（）. 波长色散X射线荧光光谱仪的原级谱线滤光片位于X射线管与（）之间，是一种能（）吸收某波长或波带的金属薄膜 波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体是利用晶体的（）现象使不同波长的X射线分开，以便从中选择被测元素的（）谱线进行测定 波长色散X射线荧光光谱仪使用滤光片的目的是消除或者降低来自X射线管发射的原级X射线谱，尤其是靶材的特征X射线谱对待测元素的干扰。 波长色散X荧光光谱仪中用于探测重元素X射线荧光是（）计数器，用于探测轻元素X射线荧光是（）正比计数器，封闭式正比计数器是用于探测限定的几个元素的X射线荧光