THDS-C（哈科所）探测站中光子探头应满足以下技术要求（）

THDS（哈科所）探测站的光子探头校曲线方式有（） THDS（哈科所）探测站,光子探头元件温度异常会造成（） THDS-C（哈科所）探测站更换光子探头后，以下做法正确的有（） THDS（哈科所）探测站定标过程中光子探头补偿方式有（） THDS-C（哈科所）探测站光子探头制冷电压由提供（） THDS（哈科所）探测站设备光子探头每侧曲线存储条（） THDS-B（哈科所）探测站光子探头制冷电压由提供（） THDS（哈科所）探测站，光子探头板温异常产生的后果（） THDS-C（哈科所）探测站的光子探头校曲线方式有（） THDS-B（哈科所）探测站,光子探头元件温度异常会造成（） THDS（哈科所）探测站,光子探头元温工作温度小于度（） THDS（哈科所）探测站，光子探头的红外器件的工作特性是（） THDS（哈科所）探测站更换光子探头后,需要、探头重新标定、重新调整探头角度（） THDS（哈科所）探测站用示波器测量探头噪声时，光子探头噪声≥时需更换（） THDS-A（哈科所）探测站更换光子探头后,需要、探头重新标定、重新调整探头角度（） THDS-A（哈科所）探测站,光子探头元温工作温度小于度（） THDS（哈科所）探测站设备光子探头需满足条件1为距上次校曲线时间间隔大于min（） THDS-C（哈科所）探测站更换光子探头后,需要、探头重新标定、重新调整探头角度（） THDS（哈科所）探测站中光子探头元件温度异常可能产生的原因是（） THDS-C（哈科所）探测站,光子探头元温工作温度小于度（）