THDS（哈科所）探测站，光子探头板温异常产生的后果（）

THDS-A（哈科所）探测站,光子探头元温工作温度小于度（） THDS（哈科所）探测站中光子探头元件温度异常可能产生的原因是（） THDS（哈科所）设备探测站的光子探头元温异常，有可能对轴温采集造成的影响是（） THDS-C（哈科所）探测站,光子探头元温工作温度小于度（） THDS（哈科所）探测站光子探头适应车速范围是（） THDS-A（哈科所）探测站光子探头采用芯插头（） THDS-A设备（哈科所）探测站的光子探头元温异常，有可能对轴温采集造成的影响是（） THDS（哈科所）探测站的光子探头校曲线方式有（） THDS（哈科所）探测站的轴温传感器有热敏探头和光子探头两种（） THDS-B（哈科所）探测站光子探头制冷电压由提供（） THDS（哈科所）探测站设备光子探头每侧曲线存储条（） THDS-C（哈科所）探测站光子探头制冷电压由提供（） THDS（哈科所）探测站光子自适应系统故障提示探头输出异常，可能的原因（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头元件温度正常值范围是（） THDS-C（哈科所）红外轴温探测系统，光子探头元件温度异常可能与光子探头有关（） THDS（哈科所）探测站探头温控板的作用是为路光子探头的工作提供制冷电流（） THDS-C（哈科所）探测站的光子探头校曲线方式有（） THDS（哈科所）探测站更换光子探头后，以下做法正确的有（） THDS（哈科所）探测站中光子探头应满足以下技术要求（） THDS（哈科所）探测站，光子探头的红外器件的工作特性是（）