THDS-C（哈科所）探测站光子探头的漂移值可以用测量（）

THDS-C（哈科所）探测站用测量探头噪声时，光子探头噪声≥80mV时需更换（） THDS-B（哈科所）探测站用测量探头噪声时，光子探头噪声≥80mV时需更换（） THDS（哈科所）探测站更换光子探头后,需要（） THDS（哈科所）探测站光子探头采用芯插头（） THDS（哈科所）探测站光子探头曲线类型包括（） THDS-A（哈科所）探测站光子探头采用芯插头（） THDS（哈科所）探测站光子探头适应车速范围是（） THDS（哈科所）探测站的探头漂移检测过程需要分钟（） THDS（哈科所）探测站,光子探头元件温度异常会造成（） THDS（哈科所）探测站的光子探头校曲线方式有（） THDS-B（哈科所）探测站光子探头制冷电压由提供（） THDS-C（哈科所）探测站光子探头制冷电压由提供（） THDS（哈科所）探测站，光子探头板温异常产生的后果（） THDS（哈科所）探测站设备光子探头每侧曲线存储条（） THDS（哈科所）红外轴温探测系统中热敏探头的漂移值可以用数据分析软件调看（） THDS-C（哈科所）探测站的探头漂移检测过程需要分钟（） THDS-A（哈科所）红外轴温探测系统中热敏探头的漂移值可以用数据分析软件调看（） THDS-B（哈科所）探测站,光子探头元件温度异常会造成（） THDS（哈科所）探测站中光子探头应满足以下技术要求（） THDS（哈科所）探测站，光子探头的红外器件的工作特性是（）