CSK-1A试块Ф40、Φ44、Φ50、台阶孔，主要用来测试斜探头的（）

CSK-1A试块利用试块直角棱边测定斜探头的（） 利用CSK-1A试块测定斜探头分辨力（） 利用CSK-1A试块上∮50mm曲面和∮1.5mm横孔可测定斜探头（） 利用CSK-1试块上∮50mm曲面和∮1.5mm横孔可测定斜探头（） CSK-ⅠA、CSK-ⅢA、CSK-Ⅳ试块主要用于制作横波距离-波幅曲线、校准斜探头的K值、横波扫描速度和检测灵敏度等（） 探头处于CSK-1A试块R100探测面时，可以测定斜探头的（） 斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定（） 斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定。 CSK-1A试块φ50有机玻璃圆孔可用于测试斜探头的折射角和分辨率（） CSK-IA试块利用试块直角棱边测定斜探头的声轴直角（） CSK-ⅠA、CSK-ⅢA、 CSK-Ⅳ试块主要用于制作横波距离-波幅曲线、校准斜探头的 K 值、横波扫描速度和检测灵敏度等。 利用CSK－ⅠA标准试块，在斜探头K值测量中，已知斜探头前沿为12mm，将斜探头前沿对准ф50mm孔在显示屏呈现回波最高幅度时，测得斜探头前沿至CSK－ⅠA标准试块端部距离为83mm，则斜探头K值为（） CSK-1A试块f50有机玻璃圆孔可用于测试斜探头的折射角和分辨率（） CSK-1A试块利用校定时期基线或测定斜探头的入射点（） 测定斜探头K值时，应探测CSK—IA试块圆弧面 测定斜探头K值时，应探测CSK—IA试块圆弧面 WGT-3试块主要用于测定斜探头的（） 利用CSK－ⅠA标准试块，在斜探头K值测量中，已知斜探头前沿为12mm ， 将斜探头前沿对准ф50mm孔在显示屏呈现回波最高幅度时，测得斜探头前沿至CSK－ⅠA标准试块端部距离为83mm，则斜探头K值为（）。 DB-H2试块主要用于测定斜探头的（） 与IIW试块相比，CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。