THDS（哈科所）探测站当外界温度变化时，铂电阻发生变化（）

同一导体，当温度发生变化时，其（）也要发生变化。 THDS-C（哈科所）探测站中室外探头箱内的热靶总成由、加热膜、铂电阻等组成（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统当环境温度变化过大而使器件温度不能稳定在该温度时，再重新设置（） THDS-A（哈科所）探测站中，光子探头元件温度变化超过系统要自动进行热靶标定（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统当环境温度变化过大而使器件温度不能稳定在该温度时，再重新设置（） THDS-C（哈科所）探测站中，光子探头元件温度变化超过系统要自动进行热靶标定（） THDS-C（哈科所）探测站,红外轴温探测系统当环境温度变化过大而使器件温度不能稳定在该温度时，再重新设置（） THDS（哈科所）探测站,光子探头元件温度异常会造成（） THDS（哈科所）探测站中，采用的温度传感器有（） THDS（哈科所）探测站进行探头标定,标定的温度为（） 当发生变化时，刀盘提前量发生变化（） THDS（哈科所）探测站的探测站机柜内的设备包括（） THDS-B（哈科所）探测站,光子探头元件温度异常会造成（） THDS（哈科所）探测站,光子探头元温工作温度小于度（） 当检测的工件温度发生变化时，探头的K值折射角也随之发生变化（） 当物体的位置发生变化时,其重心也发生变化。 THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统元件温度不稳定或有跳变，容易造成探头碲镉汞器件的变化（） THDS（哈科所）探测站探头电缆包含信号（） THDS（哈科所）探测站室外有个磁钢（） THDS（哈科所）探测站探头故障主要包括（）