套管介质损耗角正切值t对nδ和电容量测试是判断套管是否受潮的一个重要试验项目（）
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套管介质损耗角正切值t对nδ和电容量测试是判断套管是否受潮的一个重要试验项目（）
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根据套管介质损耗角正切值tanδ 和电容量的变化可以较灵敏地反映出( )和其他局部缺陷。
A.套管绝缘劣化 B.套管绝缘受潮 C.电容层短路 D.电容层漏油
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测量20kV及以上非纯瓷套管的主绝缘介质损耗角正切值tanδ和电容值，电容型套管的实测电容量值与产品铭牌数值或出厂试验值相比，其差值应在（）范围内
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关于套管电容量和介质损耗因数停电试验，说法正确的是（）。
A.适用于电容型套管 B.测量变压器套管tanδ时，被测套管所属绕组短路加压，其它绕组短路接地 C.如果试验电压加在套管末屏的试验端子，则必须严格控制在设备技术文件许可值以下（通常为2000V），否则可能导致套管损坏 D.测量前应确认外绝缘表面清洁
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高压套管电容量和介质损耗因数试验影响测量的因素有（ ）。
A.抽压小套管绝缘不良 B.相对湿度较大 C.套管附近的木梯、构架、引线等所形成的杂散损耗 D.自高压电源接到试品导电杆顶端的高压引线
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测试变压器绕组连同套管的介质损耗角正切值tanδ 的目的主要是检查( )。
A.变压器整体是否受潮 B.变压器绝缘油及纸是否劣化 C.变压器绕组上是否附着油泥 D.变压器存在严重局部缺陷
答案
测量20kV及以上非纯瓷套管的主绝缘介质损耗角正切值tanδ和电容值，应符合以下规定（）
A.在室温不低于10℃的条件下，套管主绝缘类型电容式油浸纸tanδ（%）最大值0.7（500kV套管0.5） B.在室温不低于10℃的条件下，套管主绝缘类型电容式气体tanδ（%）最大值1.5 C.在室温不低于10℃的条件下，套管主绝缘类型非电容式浇铸树脂tanδ（%）最大值2.0 D.在室温不低于10℃的条件下，套管主绝缘类型非电容式复合绝缘tanδ（%）最大值由供需双方商定 E.电容型套管的实测电容量值与产品铭牌数值或出厂试验值相比，其差值应在±5%范围内
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套管相对介质损耗因数和相对电容量比值检测从套管末屏接地线上取信号，单根测试线长度应保证在（）米以内
A.5 B.10 C.15 D.20
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40.5kV及以上非纯瓷套管tanδ和多油断路器的介质损耗角正切值tanδ测试危险点包括( )。
A.高处坠落 B.试验仪器损坏 C.工作人员触电 D.高处落物伤人
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套管相对电容量比值正常判断标准为（）。
A.初值差≤2% B.初值差≤3% C.初值差≤5% D.初值差≤10%
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套管相对电容量比值正常判断标准为（）
串补装置火花间隙房油浸式穿墙套管电容量及电容量测试周期为，电容型套管的电容值与出厂值或上一次试验值的差别超出时，应查明原因（）
对套管进行电容量及介质损正切值tanδ试验时，通常选用一次电压不小于( )kV，电流不小于( )A的工频试验变压器。
40.5kV及以上非纯瓷套管tanδ和多油断路器的介质损耗角正切值tanδ测试前的准备工作包括( )。
测量非纯瓷套管的介质损耗因数tgδ和电容值时，同一绕组的套管（）
测量变压器非纯瓷套管的介质损耗正切值时，应（）
电容型的套管的电容量变大超出规定值不是由于（）
套管相对电容量比值初值差（）。
变压器套管、电抗器套管在变压器、电抗器大修后及预试应进行电容型套管tanδ与电容量测试，如套管的电容值与出厂值或上一次试验值的差别超出时，应查明原因（）
相对介质损耗因数和电容量比值检测后，测试数据分析正确的是（）。
相对介质损耗因数和电容量比值检测人员需要了解电容型设备相对介质损耗因数和电容量比值检测仪的（）
根据油浸式变压器（电抗器）验收细则：介质损耗因数、电容量测量，20℃时介质损耗因数：对tgδ≤0.8%。应提供电容量实测值（）
套管相对电容量比值检测周期为（）。
套管相对电容量比值异常值为（）
套管相对电容量比值异常值为（）
下列关于电容量与介质损耗因数测试的注意事项，正确的是（ ）。
关于介质损耗角的正切值，()是正确的。
对电容型套管，每年定期进行运行电压下带电测试tanδ及电容量的,套管对末屏的tanδ试验周期可调整为6年（）
套管相对电容量比值正常值为（）。
套管相对电容量比值正常值为（）
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