P3产品的总研发费用为（ ）W
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P3产品的总研发费用为（ ）W
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P4产品的总研发费用为()W。
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P2，P3，P4的研发时间都是（），总的研发投资各为（）。
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P2，P3，P4的研发时间都是（），总的研发投资各为（）
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每个P3产品的成本为()W
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写出下面程序的运行结果。 void main() { int k=2, m=4, n=6; int *p=&k, *p2=&m, *p3=&n; *p1=*p3; *p3=*p1; if (p1==p3) p1=p2; printf("p1=%d p2=%d p3=%d ", *p1, *p2, *p3); }
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P2产品研发出来共需要投入多少研发费用?
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百分位数体格评价，P3到P97包括了总样本的97%（）
答案
百分位数体格评价，P3到P97包括了总样本的97%（）
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设有n个元素进栈序列是P1，P2，P3，…，Pn，其输出序列是1，2，3，…，n，若P3=3，则P1的值()。
A.可能是2 B.一定是2 C.不可能是1 D.一定是1
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一个栈的入栈序列为1,2,3，…，n，其出栈序列是p1，p2，p3，……，pn。若p2=3，则p3可能取值的个数是
一个栈的入栈序列为1,2,3，…，n，其出栈序列是p1，p2，p3…pn。若p2=3，则p3可能取值的个数是（）
AVR板的测量方法：AVR板上有P1、P2、P3三个测量点，AVR板接通电源后，P1、P2之间应有12V直流电压，P2、P3之间应有6V直流电压，P1、P3间应有6V直流电压。P1、P2、P3两点间如无电压，说明AVR板烧坏。
AVR板的测量方法：AVR板上有P1、P2、P3三个测量点，AVR板接通电源后，P1、P2之间应有12V直流电压，P2、P3之间应有6V直流电压，P1、P3间应有6V直流电压。P1、P2、P3两点间如无电压，说明AVR板烧坏（）
(((? p1) →(? p2))→(( p1→ p3)→((? p1)→(? p2))))是：
设有连续m批产品，它们的不合格品率分别为p1，p2，p3，……pm设pmin=min{p1，p2，p3，……pm，}，使用GB/T2828.1对它们进行抽样检验，设接收了其中的k（k≤m）批，则有（）
设有连续m批产品，它们的不合格品率分别为p1，p2，p3，……pm设pmin=min{p1，p2，p3，……pm，}，使用GB/T2828.1对它们进行抽样检验，设接收了其中的k（k≤m）批，则有（）
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定级检测是为了确定产品的抗风压性能分组的检测，检测压力差为P3
定级检测是为了确定产品的抗风压性能分组的检测，检测压力差为P3（）
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