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介损电桥测量小电容试品介质损耗因数时,采用( )接线较好。
单选题
介损电桥测量小电容试品介质损耗因数时,采用( )接线较好。
A. 正接线
B. 反接线
C. 对角接线
D. 屏蔽接线
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单选题
介损电桥测量小电容试品介质损耗因数时,采用( )接线较好。
A.正接线 B.反接线 C.对角接线 D.屏蔽接线
答案
单选题
相对介质损耗因数和电容量比值检测,同相设备介损测量值与初始测量值比较,变化范围不超过()。
A.±0.3% B.±0.2% C.±0.4% D.±0.1%
答案
单选题
相对介质损耗因数和电容量比值检测,同相设备介损测量值与初始测量值比较,变化范围不超过()
A.±0.3% B.±0.2% C.±0.4% D.±0.1%
答案
单选题
用介损仪反接线测量小电容量试品(<50PF)的介损tgδ及Cx时,在附近处有物体(如梯子等)情况下测得的电容值较物体拆除拆除后测得的电容值()
A.大 B.相等 C.小 D.以上均不是
答案
判断题
在现场相同条件下(好天气),用介损仪测量小电容试品的tgδ和Cx时,用正接线方法和反接线方法测量结果是完全相同的()
答案
单选题
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A.顶层 B.中层 C.底层 D.油枕
答案
判断题
测量介质损耗因数,通常不能发现大体积试品的局部缺陷。(&&)()
答案
单选题
适合测量损耗小的电容器的电桥是()电桥
A.串联电容 B.并联电容 C.海氏 D.串联欧文
答案
多选题
现场用电桥测量介质损耗因数,出现负数的可能原因是()
A.标准电容器有损耗 B.外部电场干扰 C.试品周围构架杂物与试品绝缘结构形成的空间干扰网络的影响 D.空气相对湿度及绝缘表面脏污的影响
答案
多选题
现场用电桥测量介质损耗因数,出现-tanδ的主要原因有( )。
A.标准电容器CN有损耗,且tanδN>tanδx B.电场干扰 C.试品周围构架杂物与试品绝缘结构形成的空间干扰网络的影响 D.空气相对湿度及绝缘表面脏污的影响
答案
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采用介质损电桥的正、反接线进行测量时,一般应以正接线测量结果作为分析判断绝缘状况的依据()
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现场用电桥测量介质损耗因数,出现-tgδ的主要原因:①标准电容器CN有损耗,且tgδN>tgδx;②电场干扰;③试品周围构架杂物与试品绝缘结构形成的空间干扰网络的影响;④空气相对湿度及绝缘表面脏污的影响()
在相同条件下,用QS1型西林电桥测量小电容试品的tgδ和C时,用正接线方式和反接线方式测量的结果是完全相同的()
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用QS1电桥测量变压器套管连同绕组一起的介损tgδ,应采用何种接线?如何接线
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变压器套管电容芯的介质损耗因数,20℃时的介质损耗因数应不大于()
采用QS1电桥测量串级式电压互感器支架介损tgδ值时,可选择的接线方法是()
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