判断题

由于被试品电容量较小,一般只要有相应电压等级的低频试验变压器即可。

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工频高电压通常采用高压试验变压器来产生。对电容量较大的被试品,可以采用()产生高电压。 简述测量小电容量试品绝缘电阻的操作步骤? 绝缘介质在交流电压作用下,其中电容性的电流的大小与被试品的电容量大小有关。 绝缘介质在交流电压作用下,其中电容性的电流的大小与被试品的电容量大小有关。 绝缘介质在交流电压作用下,其中电容性的电流的大小与被试品的电容量大小有关() 绝缘介质在交流电压作用下其中电容性的电流的大小与被试品的(B电容量)大小有关() 当被试品本身电容量较大时,可采用串联谐振法进行交流耐压试验() 当被试品本身电容量较大时,可采用串联谐振法进行交流耐压试验() 试品绝缘表面脏污、受潮,在试验电压下产生表面泄漏电流,对试品tanδ和C测量结果的影响程度与试品电容量的大小无关。() 当被试品本身电容量较大时,可采用串并联谐振法进行交流耐压试验。 试品绝缘表面脏污,受潮,在试验电压下产生表面泄漏电流,对试品介损和电容量测量结果的影响程度是() 外施交流耐压试验细则规定在试验大电容量的被试品时,应在( )直接测量试验电压,并与被试品并接球隙进行保护。必要时可在调压器输出端( )适当的电阻。 在试品的电容量很大的场合,用工频交流高电压进行绝缘试验时会出现很大的() 对于电容量较大的试品 (例如套管、互感器等),测量 tanδ能有效地发现 局部集中性缺陷和整体分布性缺陷 。但对电容量较小的试品 (例如大中型发 电机、变压器、电力电缆、电力电容器等)测量 tanδ只能发现整体分布性 缺陷() 对于电容量较大的试品 (例如套管、互感器等),测量 tanδ能有效地发现 局部集中性缺陷和整体分布性缺陷 。但对电容量较小的试品 (例如大中型发 电机、变压器、电力电缆、电力电容器等)测量 tanδ只能发现整体分布性 缺陷 。 有绕组的被试品进行电容量和介质损耗因数试验时,与被试部位相连的所有绕组端子连在一起加压,其余绕组端子均()。 测量绝缘电阻前,首先断开试品的电源,拆除或断开对外的(),并将其()放电。对电容量较大的试品,必须()。 直流高电压试验,试验小电容量的试品并要求准确读取电流值时,例如测量带并联电阻的阀型避雷器电导电流时,应加滤波电容器。滤波电容器一般取()。 直流高电压试验,试验小电容量的试品并要求准确读取电流值时,例如测量带并联电阻的阀型避雷器电导电流时,应加滤波电容器。滤波电容器一般取() 对大电容量试品应先进行短路接地放电后,才能进行设备接线。
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