单选题

卷褶伪影产生的主要是原因是()

A. 被检查的解剖部位超出了视场范围
B. TR过大
C. 视场的范围超出被检查的解剖部位
D. TE过大
E. 扫描时间过长

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单选题
卷褶伪影产生的主要是原因是()
A.被检查的解剖部位超出了视场范围 B.TR过大 C.视场的范围超出被检查的解剖部位 D.TE过大 E.扫描时间过长
答案
单选题
造成卷褶伪影主要是因为
A.视场的范围超出被检物体 B.被检物体超出视场的范围 C.TR过大 D.TE过大 E.扫描时间过长
答案
单选题
造成卷褶伪影主要是因为()
A.视场的范围超出被检物体 B.被检物体超出视场的范围 C.TR过大 D.TE过大 E.扫描时间过长
答案
多选题
避免卷褶伪影的对策有
A.增大FOV,使之大于受检部位 B.切换频率编码与相位编码的方向,把层面中径线较短处设置为相位编码方向 C.缩小FOV,使之等于受检部位 D.相位编码方向超范围编码,使之超出FOV的范围 E.增加图像的空间分辨率
答案
单选题
避免卷褶伪影的对策有()
A.增大FOV,使之大于受检部位 B.切换相位频率,把层面中较短处设置为频率编码 C.缩小FOV,使之等于受检部位 D.切换频率编码,使之超出FOV的范围 E.增加图像的空间分辨率
答案
单选题
卷褶伪影可以通过下述方法抑制()。
A.减小层厚 B.加大FOV C.全矩阵采集 D.改变频率编码方向 E.增加平均次数
答案
多选题
为了减轻卷褶伪影的影响,可以采用
A.尽可能使用表面线圈 B.尽可能减小视野FOV C.使用预饱和脉冲 D.切换相位编码与频率编码方向 E.相位编码方向过采样
答案
多选题
截断伪影产生的原因是()
A.出现在图像中高、低信号差别大的两个组织的界面 B.像素尺寸范围内的组织信号被平均归为一个数值 C.相邻两个像素间原本连续的解剖结构由于信号的平均发生截断不连续 D.像素尺寸越大,相邻像素间所产生的截断差别越大 E.表现出肉眼可见的明暗相间的条带
答案
单选题
环状伪影产生的原因是
A.数据采样不当 B.部分容积效应 C.机械故障 D.射线束硬化 E.探测器通道故障
答案
单选题
造成卷折伪影主要是因为()
A.视场的范围超出被检物体 B.被检物体超出视场的范围 C.TR过大 D.TE过大 E.扫描时间过长
答案
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