什么是伪缺陷？简述底片上伪缺陷的来源

为观察缺陷动态波形和区分缺陷信号或伪缺陷信号，确定缺陷的位置、方向和形状，可采用（）等探头基本扫查方式 在磁粉探伤中，工件上非缺陷因素产生的磁痕叫做伪缺陷磁痕，它是由不相关显示和假显示形成（） 简述伪距是怎样产生的，GPS伪距的原理 简述伪距是怎样产生的，GPS伪距的原理 渗透检测中，由于渗透检测污染造成伪缺陷显示的主要原因是（） 缺陷沿射线方向的尺寸与底片上缺陷影像的大小成正比。 缺陷沿射线方向的尺寸与底片上缺陷影像的大小成正比（） 如何识别X射线底片上的咬边缺陷? 射线探伤时若底片上出现的缺陷特征是不规则的白亮块状，则说明是（）缺陷。 冲洗条纹表现为模糊的条纹状影像，它是射线照片上的伪缺陷之一，其主要产生原因是（）。 什么是“伪精致”？ RT中，为避免因胶片伪缺陷而重新拍片，可采取下述哪种措施（） 简述“伪士”特点。 JB/T4730.3-2005标准规定：为了观察缺陷的动态波形和区分缺陷信号或伪缺陷信号，确定缺陷的位置方向和形状，可采用下列哪种扫查方式（） 照相底片上呈不同形状的点式长条缺陷是（）。 什么是伪音（MusicaFicta）？ 以下各焊接缺陷中不可以在RT底片上识别的是（） 简述伪评估及其常用方法？ 射线检测能从底片上直接判断出缺陷种类，而超声波检测判断缺陷的种类较难。 多普勒超声伪像的主要来源有（）。