THDS-C（哈科所）探测站,红外轴温探测系统探头温控板是控制温度的电路板（）

THDS-C（哈科所）红外轴温探测系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的（） THDS-B（哈科所）红外轴温探测系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的（） THDS（哈科所）探测站红外轴温探测系统中对于磁钢描述正确的是（） THDS-C（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头手动调整制冷电流的调整时间为（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统元件温度与正常值偏离较大，就会造成探头测温（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头手动调整制冷后，元件制冷电流大约为（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头的元件温度是由控制箱内的控制的（） THDS-B（哈科所）红外轴温探测系统，双侧元件温度接近环温时，可能是探头温控板造成的（） THDS-C（哈科所）红外轴温探测系统，双侧元件温度接近环温时，可能是探头温控板造成的（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统探头光孔有异物遮挡时，容易造成探头探测出来的轴承温度（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头元件温度超过正常值范围，有可能造成探头测温（） THDS（哈科所）探测站红外轴温探测系统热敏探头校零时测得的电压正常值为（） THDS-C（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头手动调整制冷后，元件制冷电流大约为（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头校零时测得的电压正常值为（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头碲镉汞元件温度调整，具有种调整制冷方式（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统如果报热敏探头板温故障，现象是板温与正常值偏离较大，可能是故障（） THDS（哈科所）红外轴温探测系统，板盘温度越高，探头所测得的轴温也相应提高（） THDS-A（哈科所）探测站,红外轴温探测系统光子探头的元件温度是由控制箱内的控制的（） 在THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统中环温插头松动的故障现象是（） THDS（哈科所）探测站,红外轴温探测系统元温传感器电缆断路,会影响（）