单选题

尺寸和深度都相同的缺陷,在相同探伤灵敏度下探测,回波最高的是最大表面与波束轴线( )。

A. 呈75°角且平滑的缺陷
B. 呈75°角且粗糙的缺陷
C. 呈90°角且平滑的缺陷
D. 相垂直且粗糙的缺陷

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单选题
尺寸和深度都相同的缺陷,在相同探伤灵敏度下探测,回波最高的是最大表面与波束轴线( )。
A.呈75°角且平滑的缺陷 B.呈75°角且粗糙的缺陷 C.呈90°角且平滑的缺陷 D.相垂直且粗糙的缺陷
答案
判断题
深度相同但表面状态不同的缺陷,在相同探伤灵敏度下,两者的回波高度一定相同()
答案
单选题
探测面光洁度不同,横通孔直径、取向、距离都相同,在以相同探伤灵敏度下将波束垂直射至孔面,则回波高度()。
A.相同 B.光洁度低的高 C.光洁度高的高 D.光结度高的低
答案
单选题
探测面光洁度不同,横通孔直径、取向、距离都相同,在以相同探伤灵敏度下将波束垂直射至孔面,则回波高度()
A.相同 B.光洁度低的高 C.光洁度高的高 D.光洁度高的低
答案
单选题
同直径的三个平底孔处于同一试块中,但深度分别为100、200和300mm,在用直探头以相同探伤灵敏度下探测时,回波最高的平底孔深度为()。
A.100mm B.200mm C.300mm D.都相同
答案
单选题
同直径的三个平底孔处于同一试块中,但深度分别为100、200和300mm,在用直探头以相同探伤灵敏度下探测时,回波最高的平底孔深度为()
A.100mm B.200mm C.300mm D.50mm
答案
单选题
处于同深度上的一个表面状态粗糙的缺陷和同样尺寸但表面光滑的缺陷,在相同探伤灵敏度下且波束垂直射及时,后者的回波高度( )。
A.与前者一样 B.比前者低 C.比前者高 D.比前者高而且显示位置提前
答案
判断题
试块需经超声波探伤。探伤灵敏度为φ2平底孔回波高度80%,以此灵敏度探测试块时,一次底面回波前无缺陷回波反射()
答案
单选题
相同的探伤灵敏度探测位于粗晶铸件和经过调质锻件中的缺陷,如两者探测面状态一样,同处深度200mm的缺陷回波高度也一样,则两者的缺陷()
A.当量相同 B.铸件中的大 C.锻件中的大 D.大小关系不确定
答案
单选题
用探测面为平面的对比试块中的2mm平底孔校准的探伤灵敏度,去探测一个探测面为圆柱面的试件,发现一个深度和回波高度均与上述试块平底孔回波相同的缺陷,则该缺陷的当量()
A.等于2mm平底孔 B.比2mm平底孔大 C.比2mm平底孔小 D.上述都不对
答案
热门试题
以相同的探伤灵敏度探测位于粗晶铸件和经过调质锻件中的缺陷,如两者探测面状态一样,同处深度200mm的缺陷回波高度也一样,则两者的缺陷() 同直径的三个平底孔处于同一试块中,但深度分别为100mm、200mm和300mm,在用直探头以相同探伤灵敏度下探测时,回波最高的是__深度上的平底孔 同直径的三个平底孔处于同一试块中,但深度分别为100mm、200mm和300mm,在用直探头以相同探伤灵敏度下探测时,回波最高的是深度上的平底孔() 以相同的探测灵敏度探测粗晶铸件或经过调质锻件中的缺陷,如两者探测面状态一样,在相同深度时缺陷的回波高度也一样,则两者的缺陷铸件中的大() 在远场区用探测面为平面的对比试块中的Φ2mm平底孔校准的探伤灵敏度,去探测一个探测面为圆柱面的试件,发现一个深度和回波高度均与上述试块平底回波相同的缺陷,则该缺陷的当量() 以相同的探测灵敏度探测位于粗晶铸件和经过调质锻件中的缺陷,如两者探测面状态一样,同处深度200mm处的缺陷回波高度也一样,则两者的缺陷:() 探测面光洁度分别△槴2樣和△槴1樣的两个试块中,具有直径、取向、距离都相同的横通孔,在以相同探伤灵敏度下将波束垂直射至孔面,则回波高度:() 探伤灵敏度是指超声探伤系统所具有的探测最小缺陷的能力() 直探头探伤时,同样测距的底面,用同样灵敏度探测,回波最高的是() 探测距离均为100mm的底面,用同样规格直探头以相同灵敏度探测时,下列哪种底面回波最高、() 采用长度和直径相同的钢棒分别对同一工件采用穿棒法探伤检测,如果磁化电流相同,则探伤灵敏度相同() 超声探伤系统所具有的探测最小缺陷的能力称为灵敏度余量() 超声检测中,钢焊缝横向缺陷的扫查灵敏度与其它缺陷的扫查灵敏度是相同的() 在一定探伤灵敏度下,从探测面到最近可探缺陷在被检工件中的深度是() 多次底波法缺陷检出灵敏度低于缺陷回波法。 多次底波法缺陷检出灵敏度高于缺陷回波法() 盲区是指在一定探伤灵敏度下,从探测面到最远可探缺陷在被检工件中的深度() 超声波探伤对裂纹、未熔合等缺陷有较高的探测灵敏度,但对气孔等表面光滑的球形缺陷灵敏度低,对缺陷不直观。 超声探伤系统中,以一定电平表示的标准缺陷探测灵敏度与最大探测灵敏度之间的差值,其含义是仪器和探头组合检测最小缺陷的能力是超声波探伤仪的动态范围() 用垂直法以相同探测灵敏度探测同一试件同深度上的两个缺陷,调节衰减器使其回波降至屏高的50%,前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是10dB,后一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是40dB则()。
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